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        X熒光光譜儀的定性和定量分析有什么區別?
        發布時間:2024-05-06 點擊:121

        X熒光光譜儀(XRF)的定性和定量分析主要基于樣品輻射出的熒光X射線的特性和強度。以下是定性和定量兩種分析的基本步驟和原理:

        一、定性分析

        樣品制備:樣品需要制備成薄片或顆粒狀,通常使用磨片機或壓片機進行制備。在制備過程中,需要注意不要引入其他元素,以避免干擾分析結果。

        照射樣品:使用X射線源對樣品進行照射,激發樣品中的元素發出熒光X射線。

        測量熒光X射線:利用熒光X射線探測器測量樣品輻射出的熒光X射線的能量和強度。

        譜圖比較:將樣品熒光X射線的能量和強度與已知標準樣品的譜圖進行比較,以確定樣品中各種元素的類型和含量。這通常涉及到對譜圖中不同元素的特征譜線進行識別和分析。

        確定元素類型和含量:通過譜圖比較,可以確定樣品中含有哪些元素,并通過譜峰強度的相對大小和譜圖形狀進一步確定元素的含量。

        二、定量分析

        樣品制備:與定性分析相同,樣品需要制備成薄片或顆粒狀,并避免引入其他元素。

        照射樣品和測量熒光X射線:同樣使用X射線源照射樣品,并利用探測器測量熒光X射線的強度。

        建立標準曲線:對于每種元素,需要建立一條標準曲線,表示該元素的濃度與其特征譜線強度的關系。這通常需要使用一系列已知濃度的標準樣品進行測量,并繪制出濃度與強度之間的關系圖。

        定量分析:在測量未知樣品時,可以通過測量其熒光X射線的強度,并在標準曲線上找到對應的濃度值,從而實現對樣品中元素含量的定量分析。

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